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超纳NanoX-M300mm晶圆自动膜厚测试仪,其可测量薄膜厚度在1nm到1mm之间,测量精度高达1埃,测量稳定性高达0.7埃,测量时间只需一到二秒, 并有手动及自动机型可选。可应用领域包括:半导体材料、生物医学、液晶显示,、硬涂层、金属膜,、眼镜涂层、聚对二甲笨、电路板、多孔硅、光阻材料 、阳光伏、真空镀层、圈筒检查等等。超纳NanoX-M300mm晶圆自动膜厚测试仪具有测试精度高,测试时间短,操作便捷等优点。

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